探针台probe探针测试失效分析电性能测试详细介绍

半导体领域探针台

        在集成电路的研发、生产制造、实效分析过程中，经常要量测内部的电参数，由于制成的越来越低，没有办法用简单的万用表、示波器的表笔来探测信号。手动分析探针台能很好的帮助工程人员实现微小位置的电学参数测试。Advanced在中国推出手动分析探针台近10年历史，销售实绩700多台，并且每年销量稳居行业销量***。行业知名客户有：友达光电、华映光电、奇美光电、群创光电、飞兆半导体、德州仪器、华虹集成、华为、电子五所、航天808所、航天201所、中科院微电子所、苏州中科院纳米研究所、复旦大学、上海交通大学、西安电子科技大学、温州大学、福州大学、厦门大学等等……

型号：   PW-400                              
规格：
chuck尺寸100mm
X,Y移动行程100mm
chuck Z轴方向升降10mm（选项）
搭配AEC实体显微镜
针座摆放个数2～4颗
适用领域：4寸Wafer，如晶圆厂、LED、学术单位等

型号：   PW-600/PW-800

规格：
chuck尺寸150mm（200mm）
X,Y电动移动行程150mm（200mm）
chuck粗调升降8mm，微调升降25mm
可搭配MOTIC金相显微镜或者AEC实体显微镜
针座摆放个数6～8颗
显微镜X-Y-Z移动范围2“x2”x2“
可搭配Probe card测试
适用领域：6寸/8寸Wafer、IC测试之产品
 

RF高频探针台    

东、南、西、北测试臂
搭配美国GGB高频测试头
DC~10/40/50/67GHZ （GSG,GS,SG）
Pitch 100～1500um
探针材料：BeCu/Tungsten

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• 老化测试系统及老化板

• 其他产品

• 晶砖

• 太阳能产业探针台

• 太阳能相关设备

• 开短路测试机(O/S Tester)

• BGA清洗机(BGA In-line cleaner)

• BGA封装厂产线设备

• 热阻测试仪(Tj  Test)

• LED Aging (LM-80 Test)

• 光发射显微镜(EMMI)

• 手动分析探针台(probe)

• LED Power Source

• LED分析测试设备

• TFT解析探针台

• TFT大型光学显微镜

• 胶框清洗机

• LCD面板业设备

• 手动分析探针台(probe station)

• I/V自动曲线量测仪(Auto curve tracer)

• IC开封机(laser decap)

• 光发射显微镜(EMMI)

• 分析量测显微镜(ZEISS and OLYMPUS Microscope)

• 切割研磨机(Buehle)

• X光检测机(X-RAY)

• 等离子蚀刻机(RIE)

• 扫描电镜和能谱分析仪(SEM)

• 超声波扫描检测设备

• 开短路测试机(open/short tester)

• IC开封机(酸开封机)

• 半自动探针台(Semi-Auto Probe Station)

• High Power Probing Solutions

• Magnetic Probe Station for Magnetic Sensor Measurements

• IC失效分析测试设备